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scanwill 增壓(ya)器(qi)的安(an)裝(zhuang)說(shuo)明(ming)
2023-02-13 TEADIT 24 HD 密(mi)封帶(dai)的性能及(ji)參數(shu)詳情
2025-10-27 關(guan)於(yu)光束分析(xi)儀(yi)的原理(li)
2025-01-26 AQ傳感(gan)器核心(xin)的作用在於(yu)哪(na)裏(li)?
2025-05-20 超(chao)聲(sheng)波(bo)均質(zhi)機 SONOPULS HD 5020 產(chan)品(pin)的補充說(shuo)明(ming)
2025-05-19 產(chan)品展(zhan)示/ Product display
PIEZOSYSTEM XY軸位(wei)移臺 測(ce)量實(shi)驗室及(ji)產(chan)品簡(jian)介: PIEZOCONCEPT LF2.100 µm 位(wei)移臺(又稱 PIEZOCONCEPT LF2.100)是壹(yi)種高精度的位(wei)移控(kong)制(zhi)設備(bei),通(tong)常(chang)用於實(shi)驗室、科研(yan)和工業自(zi)動(dong)化等領域,
2025-10-28
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SONASCREEN 2 攝像機(ji)聲學(xue)測(ce)量設備(bei)及(ji)產(chan)品簡(jian)介: SONAPHONE 數(shu)字超(chao)聲(sheng)波(bo)測(ce)試設備(bei),頻率(lv)範(fan)圍(wei) 150 Hz - 128 kHz,5 英(ying)寸(cun) TFT 顯示屏(ping),帶(dai)多點觸控(kong)控(kong)制(zhi)器。
2025-05-08
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Janitza 通(tong)用測(ce)量設備(bei) 變壓(ya)器(qi)及(ji)產(chan)品簡(jian)介: Janitza UMG 103-CBM 是壹(yi)種通(tong)用測(ce)量設備(bei),用於低壓(ya)配(pei)電系(xi)統(tong)中的頂帽(mao)導軌安(an)裝(zhuang),用於測(ce)量和檢查配(pei)電(dian)系(xi)統(tong)中的電氣(qi)參數(shu)。它測(ce)量高達(da) 40 次(ci)諧(xie)波(bo)的諧波(bo)。
2025-10-28
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Janitza 三相電表互感(gan)器測(ce)量及(ji)產(chan)品簡(jian)介: Janitza 單相電表(biao)和三相電表均可直(zhi)接測(ce)量。三相儀表也可以通(tong)過電(dian)流(liu)互感(gan)器測(ce)量更大(da)的電流(liu)範圍(wei)。
2025-10-28
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Janitza 數(shu)據采(cai)集(ji)功率(lv)分析(xi)儀(yi)器(qi)及(ji)產(chan)品簡(jian)介: Janitza 模塊化(hua)可擴(kuo)展(zhan)功率(lv)分析(xi)儀(yi) UMG 96 PQ-L,通(tong)過插(cha)入(ru)式(shi)擴(kuo)展(zhan)模塊(kuai),該器件可(ke)以通(tong)過以太(tai)網(wang)接(jie)口(kou)、2 個差分電(dian)流(liu)輸入(ru)、壹(yi)個(ge)溫(wen)度(du)輸入(ru)和第 4 個電流(liu)輸入(ru)快(kuai)速(su)輕松(song)地進行擴(kuo)展(zhan)。
2025-10-28
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POLOS 系(xi)列 光(guang)譜測(ce)量儀(yi)及(ji)產(chan)品簡(jian)介: FR-pRo 是壹(yi)個(ge)模(mo)塊(kuai)化和可擴(kuo)展(zhan)的平(ping)臺,用於表(biao)征(zheng) 1 nm - 1 mm 厚(hou)度範(fan)圍(wei)內的塗(tu)層。FR-pRo 工(gong)具(ju)根據客(ke)戶(hu)需求(qiu)量身(shen)定(ding)制,用於各(ge)種不同(tong)的應用,例如:吸(xi)光度(du)/透射率(lv)/反射率(lv)測(ce)量、溫(wen)度和環境受(shou)控(kong)環(huan)境甚至(zhi)液(ye)體(ti)環境中的薄膜(mo)表征(zheng)等等。
2025-11-12
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POLOS 實(shi)時光(guang)譜測(ce)量裝(zhuang)置(zhi)用於研(yan)究(jiu)所及(ji)產(chan)品簡(jian)介: polos 單點測(ce)量裝(zhuang)置(zhi)微型化解(jie)決(jue)方(fang)案(an),用於對(dui)透(tou)明(ming)和半透明(ming)的單層薄(bo)膜(mo)或薄(bo)膜(mo)堆疊(die)進行精確(que)和精確(que)的非破(po)壞性(xing)層厚(hou)測(ce)量。保(bao)證高度準(zhun)確(que)和可重復(fu)的測(ce)量。
2025-11-12
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POLOS 用於半導體上的單點測(ce)量裝(zhuang)置(zhi)及(ji)產(chan)品簡(jian)介: polos 單點測(ce)量裝(zhuang)置(zhi)微型化解(jie)決(jue)方(fang)案(an),用於對(dui)透(tou)明(ming)和半透明(ming)的單層薄(bo)膜(mo)或薄(bo)膜(mo)堆疊(die)進行精確(que)和精確(que)的非破(po)壞性(xing)層厚(hou)測(ce)量。保(bao)證高度準(zhun)確(que)和可重復(fu)的測(ce)量。
2025-05-07
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